OEIS に関する報道

この研究では、正確で計算可能な MDL 参照モデルを使用して OEIS 整数列ベンチマークを分析し、MDL の難易度は基本的にパラメーターの数であり、値の大きさに関係なく、発見ポイントは組み合わせ識別可能限界によって正確に予測されることがわかりました。これは、既存のベンチマークが、真の帰納的推論機能よりも多くのシーケンス用モデルのメモリを測定する可能性があることを意味します。